起订量:
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检测范围:
粒径范围 0.3nm-10.0μm
ZETA电位 +/- 500mV
亚微米粒径电位检测仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度,亦帮用户大大节省检测成本。
亚微米粒径电位检测仪优势
1、APD&PMT双检测器;
2、多角度检测(multi angle)模块;
3、可搭配不同功率光源;
4、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;
5、钯电极;
6、精确度高,接近样品真实值;
7、复合型算法:
高斯(Gaussion)单峰算法的Nicomp多峰算法自由切换
相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换
8、快速检测,可以追溯历史数据;
9、结果数据以多种形式和格式呈现;
10、符合USP,CP等个多药典要求;
11、无需校准;