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M183239 涡流测厚仪 型号:TX20-ED400

型号
M183239
北京海富达科技有限公司

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详细信息

涡流测厚仪 型号:TX20-ED400

仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

涡流测厚仪 型号:TX20-ED400

技术参数
测量范围: 0~500 μm
测量精度: 0~50 μm:±1 μm;
50~500 μm:±2%
分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;
50~500 μm:1 μm;
0~500 μm:1 μm(可选)
使用温度: 5~45℃
外形尺寸: 150 mm×80 mm×30 mm
重量: 280 g




涡流测厚仪 型号:TX20-ED400

仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

涡流测厚仪 型号:TX20-ED400

技术参数
测量范围: 0~500 μm
测量精度: 0~50 μm:±1 μm;
50~500 μm:±2%
分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;
50~500 μm:1 μm;
0~500 μm:1 μm(可选)
使用温度: 5~45℃
外形尺寸: 150 mm×80 mm×30 mm
重量: 280 g


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