硅光&AWG芯片全自动测试台-智慧城市网-手机站

深圳光泰通信设备有限公司

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Isolator、Circulator 自动测试系统

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主营产品公司介绍

COB耦合台, AWG芯片测试台, TOSA耦合台

　　~深圳光泰通信设备有限公司成立于2012年9月，是一家专注于光通信器件模块自动化设备研发、生产和销售的国家*，专业提供光通信自动化对光耦合系统、自动化测试解决方案以及专业的售后技术支持服务。

　　公司拥有多名在国内外大中型光通信企业丰富经验的研发和技术人才，旨在做光通信领域的精尖产品，以科技创新为先导，顺应5G发展和大数据变革的时代需求，一如既往地秉承“以质为本，以精立业”的质量方针，以技术为核心，竭诚为客户提供性价皆优的光自动耦合系统和非标定制化设备，主要主品如下：

　　有源产品自动化：

　　1)40G/100G/400G COB AWG对光耦合系统

　　2)FAU、lens多模和单模对光耦合系统

　　3)100G Box封装TOSA自动耦合系统

　　4)ICR(集成相干混波接收器)自动耦合系统

　　5)微型PD Array自动耦合系统等

　　无源产品自动化：

　　1)AWG/CWDM4/芯片bar条自动耦合、Y波导耦合、自动测试解决方案

　　2)WDM、滤波片透反射、激光器、声光耦合等自动对光测试系统

　　3)CWDM一拖四扫描，AWG/DWDM/CWDM4并行一拖N实时扫描测试系统

　　4)Coupler /WDM/Circulator/Isolator/AWG全功能综合测试系统

　　5)其他各种无源光器件模块产品的定制自动化测试解决方案。

　　测量仪器仪表：

　　1)可调激光器，ITU光源，DFB点光源，宽带光源

　　2)高速扫描功率计，双通道功率计，八通道功率计等各种定制功率计

详细信息

产品功能介绍 Product Function Introduction

1. 采用双边14轴高精度步进电机，配合高精度涡电流传感器，结合特殊算法快速找到信号位置的设计架构，然后进行光谱扫描测试并分析测试结果。

2. 兼容石英玻璃基和硅基芯片材料的Bar条芯片测试。

3. 流程化操作，兼容AWG/CWDM4/PLC等各种类型平面波导产品的测试.

4. 单颗产品的自动对光时间<30秒. 耦合重复性<0.1dB.

5. 单颗产品的扫描测试时间<30秒(4相位)，扫描原始数据和测试结果保存到数据库。

6. 涡双边涡电流进口传感器自动对三个方向的角度调平行，自动控制FA端面(任意角度)与每一颗芯片的距离，没有行程导致的各种累计误差。

7. 操作简单，对熟练员工没有依赖性，员工只需要手动上料，并对颗芯片进行初始找光，后续颗粒产品全程自动完成，一名员工可以看守多个测试台。

系统性能指标 System Performance Index

规格		要求	单位	描述
重复性		＜0.2	dB	同一颗芯片反复耦合的IL变化量
稳定性		＜0.2	dB	点上匹配液后10分钟内的IL变化量
循环时间	颗初始找光	＜4	Min	从芯片上料到找到初始光的时间
	后续每颗重复找光	＜35	S	除了颗初始找光时间外，Bar后续每颗的耦合时间
	扫描测试时间	＜30	S	Santec光源，1260~1350nm，扫描速度20nm/秒，25pm步距，4相位穆勒矩阵算法SANTEC TLS，1260~1350nm, 20nm/sec, 25pm step Muller matrix method(4 state)
耦合精度		＜0.2	dB	标准类型双向CWDM4
分析参数个数		>15	Param	IL,PDL,PDW,Ripple, 0.5/1/3dB bandwith,Adj Crosstalk, Non-Adj crosstalk,Total crosstalk.（Comply with customer requirements）

硅光&AWG芯片全自动测试台

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产品参数

规格类型

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