KARL DEUTSCH测厚仪LEPTOSKOP 2042特点参数

KARL DEUTSCH自1949公司成立以来，一直致力于研发和生产无损检测仪器和设备，是个传统的家族企业。产品包括便携式仪器，台式仪器， 探头和渗透裂纹检测剂。典型的检测任务是超声波焊缝检测，铸件缺陷检验，用磁粉或渗透方法对锻件裂纹检测，轨道交通和航空安全系统中的部件检测，以及壁厚和涂层厚度测量。

KARL DEUTSCH涂层测厚仪(带探头)LEPTOSKOP 2042：

大型图形显示48毫米×24毫米，带照明

校准选项：

出厂前校准，立刻准备测量

校准未知涂层

零点校准

未涂覆基材之一，多箔校准

涂层材料校准

校准数据可以单独存储在单独的校准文件，并可以重新装载

可选的显示模式，以获得适应测量任务

输入和监控限制

Windows下读数存储，方便文件管理

可用的PC软件EasyExport和ICOM

多达999个读数统计评估

min值，max值，平均值，读数，标准差，监测极限

局部厚度和平均涂层厚度（DINEN ISO2808）

技术参数：

串行接口：将数据传输到RS232或USB瑗缘ww王王

电源：通过电池，USB或电源装置

测量范围：0 -20000微米（取决于探头）

测量速率：高达每秒2读数

存储：max9999，读数高达140文件

测量不确定度（校准后）

涂层厚度<100微米：读数+/-1微米的1％

涂层厚度>100微米：读数+/-1微米的1..3％

涂层厚度>1000微米：读数+/-10微米的3..5％

涂层厚度> 10000微米：读数+/- 100微米的5％

型号：

2442.100探头

2442.110探头

2442.120探头

2442.130探头

2442.140探头

2442.200双极探头

2442.300微探探头

2442.310微型探头

2442.320微型探头

2442.330微型探头

2442.340微型探头

2442.350微型探头

2442.410微型探头

2632.002微型探头

KARL DEUTSCH测厚仪LEPTOSKOP 2042特点参数