M135445 磁性材料自动测量系统 ZX311-MATS-3000M

磁性材料自动测量系统 ZX311-MATS-3000M

MATS磁性材料自动测量系统
ZX311-MATS-3000M硅钢材料测量装置
产品简介
MATS-3000M/K50B硅钢材料测量装置是基于computer（计算机）、Software 软件、A/D数据采集和ARM嵌入式系统等技术应用条件下的磁测量设备。
MATS-3000M/K50B硅钢材料测量装置运用数字波形补偿和数字反馈技术，可准确测量电工钢片（带）、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料材料在40Hz～1.2kHz频率范围内的交流磁性参数：比总损耗Ps、磁极化强度Jm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅磁导率，以及交流磁化曲线和损耗曲线。
主要特点
⑴ 采用Windows测量软件，操作方便。
⑵ 采用伏安法和数字积分测量动态磁滞回线，可准确测量μa、δ、Ps、Br和Hc等动态磁特性参数。
⑶ 第三代信号源技术，初级输出低至10mV时，仍保持较高的信噪比。
⑷ 运用数字动态反馈处理技术，次级电压信号测量小可达到1mVrms。
⑸ 运用数字波形补偿技术，通过数字合成、移相等数字处理技术的应用，保证被测样品在接近饱和磁化状态下时次级电压的波形因数，测量结果准确。
⑹ 全频率范围锁定磁场测量，初级励磁电流小分辩率0.01mA。适合电流互感器磁芯等器件的交流磁化曲线测量。
⑺ 装置主机整体散热风道设计，可满足连续装置在连续大功率条件测量环境下的性。
⑻ 装置主机采用4.5寸854×480高分辨率IPS显示屏，实时显示电压参数和波形状态。
⑼ 自动连续测量多达255个测试点，每个测试点的测试时间约30秒（与样品相关），多点测试可选择固定频率、固定Bm或固定Hm。
磁性材料自动测量系统 ZX311-MATS-3000M

装置技术参数
1、工作环境
输入电源 单相200V～240V，50Hz±10%，大10A
使用环境 环境温度：23±5℃；环境湿度：30～75%RH
外磁场干扰 应绝对避免
热平衡时间 10分钟
2、测量范围
适用标准 GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6
测量材料 可测量电工钢（硅钢）、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶和电工纯铁等软磁材料
样品形状 可采用爱泼斯坦方圈或磁导计测量片状和条状等开路样品
可绕线测量环形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和双孔等闭路样品
测量参数 Ps、Jm、Hm、Ss，μa、δ、Br和Hc，可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等参数。
3、装置参数
型号
参数 MATS-3000M/k50B
大输出功率 500VA正弦波（20Hz-40Hz：150VA;40Hz-1KHz：500VA;1KHz-2K Hz为350VA）
频率范围 40Hz～1.2k
频率细度 1Hz
输出电压 0～1V～10V～50V～150V 四档自动量程
大输出电流 0～10A
电流采样 6.33mA～20A，八档自动量程
电压采样 1V～316V，六档自动量程
测量模式 锁B 有
锁H 有
保护功能 过热、过流、过压和参数保护
数据采集卡 采样速率：40MHz×2通道;分辨率和线性度：12Bit±1/2LSB
工控计算机 研华IPC-510或研祥IPC-810
操作系统 Windows XP或Windows 7
打印机 黑白激光打印机
4、系统参数
4.1、依据国标GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz频率下，使用25cm爱泼斯坦方圈测量30×300的硅钢标样，技术指标如下：
被测参数 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不确定度(k=2) 1 1 2 1 2
重复性(恒温) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
备注 锁B测试：无取向片Bm≤1.5T
取向片Bm≤1.7T 锁H测试：无取向片Hm≥1000A/m
取向片Hm≥500A/m
4.2、依据国标GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz频率下，使用SST-500单片磁导计测量500×500的硅钢标样，技术指标如下：
被测参数 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
不确定度(k=2) 1.5 1.5 2 1 3
重复性(恒温) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
备注 锁B测试：无取向片Bm=0.8～1.5T
取向片Bm=1.0～1.8T 锁H测试：无取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m
4.3、依据国标GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz频率下，测量坡莫合金环形试样，技术指标如下：
被测参数 Ps(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不确定度(k=2) 3 2 - 1 1
重复性(恒温) ± 1.5 ± 1 ± 1 ± 0.5 ± 0.5
备注 1、试样应为薄壁环，外径/内径≤1.25。
2、测试前应先退磁，退磁场频率≤测试频率。
3、不确定度为“-”，表示国标中不要求。
4.4、依据国标GB/T 19346.1-2007，测量非晶环形试样，技术指标如下：
被测参数 Ps(%) Ss(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
不确定度(k=2) 5 5 3 - 1 2
重复性(恒温) ± 3 ± 2.5 ± 2 ± 2 ± 0.5 ± 1
备注 ㈠.试样应为薄壁环，外径/内径≤1.5。
㈡.锁B测试，且Bm=100mT～200mT；测试前应先退磁，退磁场频率≤测试频率。
㈢.不确定度为“-”，表示国标中不要求。