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ATX3880 ATX3880_镀层无损分析 X射线荧光测厚仪
- 型号
- ATX3880
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奥谱天成——国家企业，落户于厦门软件园三期，总占地面积2500平方米；在安徽省芜湖市设有全资子公司，占地面积2035平方米。奥谱天成由国际光谱仪器专家刘鸿飞博士（中科院上海技物所博士毕业、厦门大学博士后）筹建，致力于开发的光谱分析仪器，立志成为国际的光谱仪器提供商。奥谱天成，基于自身*的光机电一体化、光谱分析、微弱光电信号处理、云计算等技术， 形成了以拉曼光谱仪为拳头产品，光纤光谱仪、高光谱成像仪、地物光谱仪、荧光光谱仪、LIBS和工业测量仪等多个领域，从产品到品牌，均跻身于世界前列。目前，产品广泛应用于科学研究 、公共安全 、环境保护 、工业测量等领域；凭借优良的产品性能，公司产品还走出，已出口到50多个国家和地区。
详细信息
综合概述
ATX3880是一款X射线荧光侧厚仪，主要用于镀层厚度测量及组成成分的分析。
X荧光光谱技术，是由高能X射线激发原子电子层，使得原子核外电子发生跃迁，造成二次X射线能量释放，因不同的元素释放的能量具有不同特性，探测系统测量这些能量和数量，从而计算元素含量。
ATX3880为用户提供了一种操作方便，且性价比的检测技术，不会损坏被测样品，可以快速获得样件的镀层厚度和组成成分信息。同时可分析几十种以上元素，五层镀层。
ATX3880机身结构小巧结实，外形优美，使用方便，一键操作，检测速度快，分辨率高。可迅速制作样件的检验结果证书。测试数据可同步上传网络，易于查看和分享。
型号 | 功能特征 |
ATX3880 | 测厚仪 XRF技术 |
产品特点
l 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
l 易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
l 有助于识别镀层成分的创新型功能
l 按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件的镀层厚度的精确结果
l 可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
l 测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
l 有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用
应用领域
l 电镀厂
l 电子电器厂
l 钢铁厂/合金厂
l
l 汽车制造
l 检测中心
1. 仪器应用演示
1. 打开仪器上盖
2. 放入样品
3. 在软件中点击“开始”按钮，测量完成，显示分析结果。如下图
2. 测试样品示例
