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MV-IS CCD、CMOS、image sensor图像传感器测试系统

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北京东方中科集成科技股份有限公司(简称:"东方中科")是控股有限公司旗下东方科仪控股集团有限公司的控股子公司,是在中关村科技园区注册的,2016年11月在深圳证券交易所A股上市,代码:002819。东方中科作为国内的测试技术和科技服务公司,为广大客户提供了包括仪器增值销售、科技租赁、系统集成及相关技术服务在内的“一站式”综合服务。多年来深耕测试测量领域,在5G通讯、新能源、工业及消费电子、人工智能、云计算大数据、新基建等多个领域提供了具有竞争力的综合测试服务解决方案。营销网络覆盖北京、上海、广州、深圳、南京、苏州、杭州、西安、武汉、成都在内的国内众多制造与研发基地。东方中科依托专业化的团队、强大的运营能力和业内的服务品牌,在不断优化服务质量、扩大市场辐射范围的同时,坚持以战略新兴产业测试应用为主要发展方向,紧密结合高技术相关产业的科技进步和发展,不断探索拓展测量领域技术和应用前沿,将硬科技领域作为未来的战略发展重点。我们始终秉承科技无限、服务创新的使命,通过内生增长和投资并购,保持业务规模的持续增长,建立和完善多元服务体系,充分发挥下属直投企业的科技资源优势,整合院署科研院所庞大的科技IP资源,全力打造促进科技成果转化的产业平台和生态体系,为推动国家高科技产业升级与结构调整贡献力量。

详细信息

针对COMS,CCD等影像传感器开发,适合多种规格的芯片传感器的量子效率测量。

1.可量测单一像素点的量子效率。
2.可量测全数组像素量子效率。
3.可产生各种所需单色光均匀光源,自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
4.选配:可加配CRA载台,用以测试chief ray angle。
5.选配:软件可配合用户需求修改。
6.为全自动化设计,操作简易。

主要可测量的参数:
1.系统增益System gain(K)
2.量子效率Quantum efficiency
3.饱和照射光子数
4.最小可探测照射光子数
5.动态范围(DR)
6.暗电流
7.线性度和线性误差Linear-Error
8.光电响应不均匀度PRNU
9.暗信号不均匀度 DSNU

系统优势:
QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:

    • 高均匀度
      可产生高均匀度的单色光光斑,在10x10mm2面积内均匀度可以>99%,在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较,具有更佳的均匀度表现。

      *QE-IS均光面的光强分布图。

 

    • 高光强度、高讯噪比
      QE-IS高效率均光系统,以550nm单色光为例,在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2,相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2,两者差距千万倍,QE-IS系统量测具备*的讯噪比,可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性。

 

    • 可作单像素QE量测
      因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm),打在1 um的像素单元,产生的光电流约在20 pA,相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下,QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上,任何单一像素的量子效率。

 

    • 可作全数组像素QE量测
      除单一像素量测,QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号,以量测全数组像素QE。

 

  • 可作CRA量测
    QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度,相较积分球的发散角度 >90度,搭配选配的旋转平台,即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统,方便整体的量测。
QE-IS与传统积分球系统的特性比较表

 

项目

QE-IS 光学系统

传统积分球系统

光均面均匀度
(10 mm x 10 mm)

> 99 %

> 99%

光均面位置

距均光系统出口300 mm

积分球开口处

光均面光强度

> 5 uW/cm2

1x10-8 uW/cm2 (1米积分球)

单像素QE量测

可(光强足够)

否(光强度过低)

发散角度 (半角)

< 5度

> 90度

可否量测CRA



产品规格
1.适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
2.单色光光谱范围: 200~1100 nm (可扩充)
3.均匀光源规格: 10 mm x 10 mm或更大
4.光均匀度> 99 %
5.单色光源角度: < 2.50 (半角)
6.最小波长步进分辨率:0.1 nm
7.波长FWHM 可做0.1~30 nm调整
8.CRA角度精度?1度


*QE 量测结果


*CRA 量测结果

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