起订量:
免费会员
针对COMS,CCD等影像传感器开发,适合多种规格的芯片传感器的量子效率测量。
1.可量测单一像素点的量子效率。
2.可量测全数组像素量子效率。
3.可产生各种所需单色光均匀光源,自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
4.选配:可加配CRA载台,用以测试chief ray angle。
5.选配:软件可配合用户需求修改。
6.为全自动化设计,操作简易。
主要可测量的参数:
1.系统增益System gain(K)
2.量子效率Quantum efficiency
3.饱和照射光子数
4.最小可探测照射光子数
5.动态范围(DR)
6.暗电流
7.线性度和线性误差Linear-Error
8.光电响应不均匀度PRNU
9.暗信号不均匀度 DSNU
系统优势:
QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:
项目 | QE-IS 光学系统 | 传统积分球系统 |
光均面均匀度 | > 99 % | > 99% |
光均面位置 | 距均光系统出口300 mm | 积分球开口处 |
光均面光强度 | > 5 uW/cm2 | 1x10-8 uW/cm2 (1米积分球) |
单像素QE量测 | 可(光强足够) | 否(光强度过低) |
发散角度 (半角) | < 5度 | > 90度 |
可否量测CRA | 可 | 否 |
产品规格
1.适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
2.单色光光谱范围: 200~1100 nm (可扩充)
3.均匀光源规格: 10 mm x 10 mm或更大
4.光均匀度> 99 %
5.单色光源角度: < 2.50 (半角)
6.最小波长步进分辨率:0.1 nm
7.波长FWHM 可做0.1~30 nm调整
8.CRA角度精度?1度