布鲁克 Dimension Icon扫描探针显微系统的性能、功能及附件等方面具有全新表现，在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的款设备,它基于世界上应用较广泛的AFM平台，集合了数十年的技术创新、行业内*的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。
布鲁克 Dimension Icon扫描探针显微系统优秀的图像分辨率，与Bruker*的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业*地位，的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新，配置温度补偿位置传感器，实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平，将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上，效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头，即使在较高的扫描速度工作时，也不会损坏图像质量，实现了更大的数据采集输出量。
zhong极体验
*的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有*的扫描分辨率
极大地降低噪声水平，在轻敲模式下低于30pm，接触模式下可获得原子级图像
热漂移速率低于200pm/分钟，获得真正的样品图像
高效率
XYZ闭环扫描器的*设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率
将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
全功能
针尖和样品之间开放式的空间设计，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求
硬件和软件技术的不断创新，新开发的HarmoniX 模式，可以测量纳米尺度上材料性质
用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析