抗干扰型介质损耗测试仪设备

抗干扰型介质损耗测试仪设备是一种专业的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）测量。仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗*力强、测试速度快等特点。 

工作原理

在交流电压作用下，电介质要消耗部分电能，这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时，电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ，Ψ的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路（Cn）和一被试回路（Cx），如图1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A／D转换器组成。

抗干扰型介质损耗测试仪设备技术指标
1、工作电源：AC 220V±10%、50Hz±1Hz
2、高压输出：0.5kV～10kV  每隔0.1kV
             精    度：2%
             大电流：200mA
             容    量：2000VA
3、自激电源：AC 0V～50V/15A  
             45Hz/55Hz、55Hz/65Hz、47.5Hz/52.5Hz
4、分 辨 率：tgδ：0.001%
              Cx：0.001pF
5、精    度：△tgδ：±（读数*1.0%+0.040%）              
              △Cx：±（读数*1.0%+1.00PF）
6、测量范围：tgδ：无限制
              Cx：15pF＜Cx＜300nF
                  10kV  Cx＜60 nF
                   5kV  Cx＜150nF
                   1kV  Cx＜300nF
         CVT测试：Cx＜300nF
7、CVT变比范围：10～10000
8、CVT变比精度：0.1%
9、CVT变比分辨率：0.01
10、抗干扰原理：变频法  
11、存储器大小：200组、支持U盘存储数据 
12、使用环境：-15℃～40℃、RH＜80%