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OPTM系列 微米光学薄膜测厚仪

型号
OPTM系列
济南千斗工业科技有限公司

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理化仪器,计量工具,电子测试设备

 我公司是一家专业代理销售*进生产检测设备、电子测试设备、理化分析仪器、计量工具、工业控制仪表、生产用机材的综合贸易公司,服务于汽车制造、半导体生产、电子产品制造、航空航天、安全生产领域,在日本、韩国和欧洲(英国)我们设有专门的*,几乎所有销售的产品都是厂家直接供货。我们的优势在于为客户提供价格相对较有优势而且交货期快的进口商品,也可根据客户的需要为客户代购日本、韩国、美国、英国的工业品、目前日本和韩国大部分工业品都可以采购到(除法规和进口国法律限制出口商品外)。如果您需要各类位移传感器、光栅尺、转速计、各种压力称重传感器、泵阀、电子测试仪器,五金工具,机电零部件,机械设备、水质分析仪、噪音计、静电防护设备、以及其他工业耗材。

我们的服务价值在于为我们的客户提供优质的产品和服务。我们的承诺是保持一定标准的质量和服务,所以你可以信任我们供应给你的工业需求。

详细信息

通过使用微光在微小区域中测量反射率,可以进行高精度的膜厚和光学常数分析的设备。
诸如各种膜,晶片,光学材料和多层膜之类的涂膜的厚度可以无损且非接触地测量。1秒/点的高速测量是可能的。它还配备了软件,即使是初学者也可以轻松分析光学常数​

特殊长度

  • 薄膜厚度测量所需的功能集成在头部

  • 使用微光(多层膜厚度,光学常数)进行高精度的反射率测量

  • 1点1秒以内的高速测量

  • 在微观条件下(紫外到近红外)实现宽测量波长范围的光学系统

  • 区域传感器的安全机制

  • 简单的分析向导,即使是初学者也可以分析光学常数

  • 配有宏功能,可让您自定义测量序列

  • 可以分析复杂的光学常数(多点分析方法)

  • 兼容300mm载物台

  • 支持各种自定义

可以根据样品的形状和位置轻松定制测量顺序。

技术指标

类型OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3
波长范围230-800纳米360-1100纳米900-1600纳米
膜厚范围* 11 nm至35μm7 nm至49μm16 nm至92μm
样本数量* 2多200 x 200 x 17毫米
光斑直径φ5,φ10,φ20,φ40


  

类型自动XY载物台类型固定框类型内置头型
尺寸
(宽x深x高)
556 x 566 x 618毫米368 x 468 x 491毫米210 x 441 x 474毫米
90 x 250 x 190毫米*
重量66公斤38公斤23公斤
4公斤*
大耗电量AC100V±10V 500VAAC100V±10V 400VA

* AC / DC电源单元

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