老化测试

老化测试是一种功能测试系统（FCT），针对于芯片样品测试中的功能验证和协议测试，提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。

老化测试特性： 

Ø  脚本管理测试用例/底层协议，不需学习ARM/FPGA编程；

Ø  测试脚本可下载到主机，实现脱机自动测试并保存测试结果；

Ø  单板64个数字通道(可定制)，2个可调电源，1个可调时钟；

Ø  电压可编程，0V~5.5V，精度+/-10mV；；

Ø  测试时钟可编程，高20MHz；

Ø  测试脚本可编程；

Ø  固件缓存可存储10K条命令，支持循环命令，支持连续下载测试脚本；

Ø  固件含512条错误存储空间；

Ø  可在线调试；

Ø  独立模块设计，可支持多个模块组成系统并行测试；

Ø  可在线升级FPGA固件，以适用不同产品测试；

Ø  USB接口与PC机通信

主板功能：

本产品的主板主要包括ARM模块和FPGA模块，其中ARM负责与上位机通讯接受命令，FPGA负责与测试芯片通讯执行命令

以下主机示意图

IO口速率

1.ARM发送数据速率为1MHZ

2.ARM接收数据速率为0.5MHZ

3.芯片输入为1.28MHZ

4.IO输入输出速率可达20MHZ

测试算法

本产品针对芯片的测试可提供以下常用测试算法：

1.全片擦写为0

2.全片擦写为1

3.全片擦写为0X55

4.全片擦写为0XAA

5.正反对角线写1测试